渡層厚度檢測儀 - Ux-720

產品介紹

一、渡層厚度檢測儀Ux-720描述：

Ux-720新一代國產專業(yè)鍍層厚度檢測J 儀，采用高分辨率的Si-PIN (或者SDD硅漂移探測器) ，測量精度和測量結果良好.采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢租金檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

二、渡層厚度檢測儀Ux-720特性：

Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節(jié)設計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便.

X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產晶的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業(yè)中晶質的提升高了檢驗的保障.

Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯專利技術FlexFp -Multi .不在受標準樣昂的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣昂的鍍層厚度，測試結果經得起科學驗證。

三、渡層厚度檢測儀Ux-720產品指標：

測厚技術X射線熒光測厚技術
測試樣晶種類金屬鍍層，合金鍍層
測量下限0.003um
測量上限。30-50um (以材料元素判定)
測量層數(shù)。10層
測量用時30-120秒
探測器類型Si-PIN 電制冷
探測器分辨率145eV
高壓范圍: 0-50KV , 50W
X光筐參數(shù): 0-50KV , 50W ，側窗類;
光管靶材:Mo靶;
慮光片專用3種自動切換，
CCD觀察260萬像素
微移動范圍: XY15mm
輸入電壓AC220V , 50/60Hz
測試環(huán)境。非真空條件
數(shù)據(jù)通訊USB2 . 0模式
準直器:1mm ，2mm ，4mm
軟件方法:FlexFP-M u Iti
工作區(qū)開放:工作區(qū)自定義
樣品腔:330x360x100mm